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半導體芯片高低溫測試機，制冷加熱循環器

簡要描述：半導體芯片高低溫測試機，制冷加熱循環器的典型應用：
適用于電子元器件的溫度控制需求。 在用于惡劣環境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度（-45℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環境測試模擬。

  • 產品型號：TES-4525
  • 廠商性質：生產廠家
  • 更新時間：2025-01-05
  • 訪  問  量：761
詳情介紹
品牌LNEYA/無錫冠亞價格區間面議
產地類別國產應用領域化工,電子/電池,制藥/生物制藥

半導體芯片高低溫測試機，制冷加熱循環器

主要用于半導體測試中的溫度測試模擬，具有寬溫度定向和高溫升降，溫度范圍-92℃~250℃，適合各種測試要求.LNEYA致力于解決了電子元器件中溫度控制滯后的問題，超高溫冷卻技術可以直接從300℃冷卻。

<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>元器件高低溫測試機，制冷加熱裝置廠家</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

半導體芯片高低溫測試機，制冷加熱循環器

　　無錫冠亞芯片高低溫測試機是針對電子元器件行業測試所推出的，那么，這類芯片高低溫測試機適用于那些行業呢？

　　經過無錫冠亞的努力，其開發生產的芯片高低溫測試機TES-4525、TES-4525W、TES-4555、TES-4555W、TES-45A10、TES-45A10W、TES-45A15、TES-45A25W、TES-45A25、TES-45A25W等型號可以用于中小規模數字集成電路邏輯功能及靜態直流參數測試，在微弱電流測試方面有良好的特性；用于二管、三管、VMOS、光電搞合器、可控硅等各種半導體分立器件進行參數測試，測試原理符合國標及軍標要求，功率參數采用300uS脈沖測試，并采用數據、圖形雙重顯示。

 

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